Sohma M., Yamaguchi I., Tsukada K., Kumagai T., Matsui M., Manabe T., Tanabe D.
Ключевые слова: HTS, YBCO, films thick, MOD process, films epitaxial, substrate sapphire, buffer layers, fabrication, co-evaporation process, comparison, critical caracteristics, critical current, thickness dependence, microstructure
Physica C, 2011, v.471, N 21-22, p.956-959
Полный текст на Sci-Hub
Дополнительная информация
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ruТехническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.